高溫高濕高壓老化箱(HAST)是半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-180L | 瀏覽量:341 |
| 更新時(shí)間:2026-01-06 | 是否能訂做:是 |
核心技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調(diào))
*部分型號支持65%-100%RH,可設(shè)定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標(biāo)準(zhǔn)要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴(yán)苛穩(wěn)定性和出色復(fù)現(xiàn)性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應(yīng)多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標(biāo)準(zhǔn)
我們的設(shè)備設(shè)計(jì)與制造嚴(yán)格遵循國際及國內(nèi)主流可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),確保您的測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得廣泛認(rèn)可:
國際電工委員會(huì) (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗(yàn)Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
IEC 60749 (半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法)
固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì) (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗(yàn) - PCT)
國家標(biāo)準(zhǔn) (GB):
GB/T 2423.40 (環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
汽車電子領(lǐng)域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應(yīng)力測試的失效機(jī)理)
AEC-Q101 (分立半導(dǎo)體器件應(yīng)力測試資質(zhì))
高溫高濕高壓老化箱(HAST)
圖片展示:



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